Метрология, стандартизация и сертификация

Санкт-Петербургский государственный технологический институт (технический университет)

Министерство образования и науки Российской Федерации
Государственное образовательное учреждение
высшего профессионального образования
"Санкт-Петербургский государственный технологический институт
(технический университет)"
Кафедра теоретических основ материаловедения
А.Б. Романов, М.В. Крашенинникова, М.М. Сычев, В.Н. Коробко
ОСНОВЫ МЕТРОЛОГИИ, СТАНДАРТИЗАЦИИ, СЕРТИФИКАЦИИ И КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА
Учебное пособие
для студентов заочной формы обучения
Санкт -Петербург
2014

Стоимость выполнения на заказ курсовых работ (часть 1, часть 2) по Основам стандартизации, метрологии, сертификации уточняйте при заказе

Выполнены следующие варианты:

Вариант 02(Б,В)

Часть 1. «Метрология»
1. Характеристики средств измерения.
2. Опишите средства измерения и единицы измерений используемые на предприятии.
Задача 3:
Имеется протокол измерения зависимости коэффициента линейного расширения (а) кристалла кварца (SiO2) от температуры перпендикулярно его оси.
Рассчитать для каждой точки среднее арифметическое значение зависимой величины и доверительный интервал для вероятности Р = 0,99.
Построить график зависимости исследуемых величин. Измерения производились в четырех точках.

Часть 2. «Стандартизация» и «Управление качеством продукции»
1. Документы в области стандартизации. Виды стандартов.
2. Правила построения и изложения технических требований в проекте ТУ.
Задача 3:
Рассчитать по отклонениям посадку.

Дата выполнения: 05/12/2014