Электроника

Санкт-Петербургский Государственный Университет Телекоммуникаций им проф. М.А.Бонч-Бруевича

Тест по разделу 1

Выполняем тестирование он-лайн для студентов Университета Телекоммуникаций им проф. М.А.Бонч-Бруевича по Электронике.
Стоимость прохождения on-line теста по разделу 1 уточняйте при заказе (присылаете логин и пароль от личного кабинета, мы сообщим Вам стоимость).

Ответы на тест по разделу 1 по Электронике выложены у нас на сайте.
Стоимость за ответ указана напротив каждого вопроса.

Каким конструктивно-технологическим приемом обеспечивается равенство длины затвора L_З и длины канала L_КМДП-транзисторов полупроводниковых интегральных схем?
созданием самосовмещенного затвора

использованием поликремниевого затвора

использованием ионно-лучевой литографии

отбраковкой транзисторов, не удовлетворяющих указанному условию

Цена: 20 р.

01, 02, 03, 04, 05, 06, 07, 08, 09, 10, 11, 12, 13, 14, 15, 16, 17, 18, 19, 20, 21, 22, 23, 24, 25, 26, 27, 28, 29, 30, 31, 32, 33, 34, 35, 36, 37, 38, 39, 40, 41, 42, 43, 44

показать все